Untersuchung der Grenzfl?chen von Clevios-Schichten

Die H?he der Lochinjektionsbarriere an Grenzschichten zwischen Elektrodenmaterialien und Lochinjektionsmaterialien in OLEDs wird durch die Austrittsarbeit der Elektrode und die Gr??e des Grenzschichtdipols bestimmt. Mit Hilfe von Photoelektronenspektroskopie (UPS) und Kelvin-Probe Messungen (KP) k?nnen alle drei Parameter quantifiziert werden, und durch die Kombination der beiden
Untersuchungsmethoden etwaige methodenbedingte Fehler ausgeschlossen werden. Die Funktion von elektronischen Bauteilen h?ngt stark von der Oberfl?chenmorphologie der verwendeten Schichten ab. Die orphologien werden im Rahmen dieser Arbeit für s?mtliche Elektrodenmaterialien vor und nach Aufbringen der Lochinjektionsschichten der Firma H. C. Starck mittels Rasterkraftmikroskopie untersucht.